Morphologi G3 - 用于颗粒大小和形状表征

您期待得到以下结果吗：

• 从样本离差到数据分析实现完全的自动化，并拥有灵活的解决方案。
• 更加详细地了解有关颗粒的信息以及它们在生产工艺各个环节所表现出来的特征。
• 更好地了解从开发到生产各个阶段的颗粒材料。
• 在一次测量中，以最少的人工介入，获取高质量的有统计意义的颗粒大小和形状信息。
• 质量设计和 PAT 新工具。
• 显微镜操作自动化，节省时间和劳动力。
• 可用于验证其他颗粒大小测量技术的工具。

Morphologi G3 自动颗粒形态表征系统是满足您上述需求的新型分析工具。此系统将高质量图像和具有统计意义的颗粒形状、大小测量方法组合在一起。

我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。

功能强大且直观的数据分析工具，可确保您从测量数据中获得最丰富的结果。

• 颗粒大小： Morphologi G3 使用不同的放大倍数确保对整个颗粒大小范围 (0.5µm – 3000µm) 的高分辨率，可使用圆当量直径参数精确测量颗粒大小。
  
• 颗粒形状：可计算各种颗粒形状参数，例如延伸度、圆度和凸起度等。这些参数可识别和量化样本间的细微差别，而那些只能测量颗粒大小的技术则无法识别这些不同。
  
• 颗粒数量和杂质颗粒检测：实际上，样本中的所有颗粒都可以被单独测量并记录，这使得图像分析系统能够出于某些目的（例如颗粒杂质检测）计算某类颗粒的数量。

Morphologi G3 简介：

• 完全集成的干粉分散剂： 我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。
  
• 统计意义： 只需单击一下鼠标，便可分析成千上万的颗粒！
  
• 消除用户偏差：标准操作程序 (SOP) 方法可客观地记录和控制所有仪器参数（例如，焦距、光线强度、放大倍数）。在一台仪器上开发的方法可通过单一电子文件进行全局传送。
  
• 保存高质量图像： 对每个单一颗粒图像都能进行观察和记录，从而可目视验证破裂颗粒、凝聚物、精细颗粒和杂质颗粒等的存在。
  
• 精确、可重复和“可验证”：为确保数据的一致性，图像分析系统在每次颗粒分析前后，都要使用 NPL（National Physical Laboratory，英国国家物理研究所）的多段光栅可跟踪技术进行自动校准。此图像分析仪符合 21CFR 第 11 部分的要求，并可提供完整的 IQ/OQ（安装认证/操作认证）文档。

更多信息：

	软件功能 Morphologi G3 软件可为用户提供高质量和高数量的颗粒形态表征，使用方便且适用范围广。
	分散单元 我们完全集成式的干粉分散系统设计新颖，可缩短样本制备时间，并显著提高测量的可重复性。
	图像分析仪的应用 Morphologi G3 可用于生产流程的任何点，将您对产品和流程的理解提升到前所未有的高度。
	什么是颗粒大小和颗粒形状？ 了解 Morphologi G3 如何表征干、湿物质中颗粒的大小、形状和数量。
	数据表
	法规遵从